Stress-Test bei MCD Elektronik

Veröffentlicht am: 22.10.2010 Kategorie: Produkte Produkte

Stress-Test bei MCD Elektronik

Mithilfe von Dehnungsmessstreifen (DMS) und einem Messdaten-Erfassungssystem beobachtet und validiert MCD Elektronik die Belastung eines Prüflings während eines Kontaktiervorgangs. Hierfür werden die DMS Aufnehmer an markante Positionen auf der Baugruppe platziert und somit die Durchbiegung der Baugruppe mit einem High- Speed- Datenlogger in Echtzeit während der Kontaktierung in X- und Y-Richtung gemessen, gespeichert und dokumentiert. Die Durchbiegung der kontaktierten Baugruppe muss an allen markanten und kritischen Stellen der Baugruppe deutlich unter 1mm betragen.

Die zu testende Baugruppe und deren Bestückung können so vor Folgeschäden durch zu große Durchbiegung im Fertigungsprozess wie auch durch unzulässige Kräfte während der Adaption und Kontaktierung im Testumfeld bewahrt werden.