Stress-Test für Leistungselektronik

Veröffentlicht am: 01.12.2009 Kategorie: Produkte Produkte

Stress-Test für Leistungselektronik

MCD hat die Arbeiten an einem Testsystem zur gleichzeitigen Prüfung von 2 Leistungselektroniken mit aktiver Kühlung erfolgreich beendet.

Funktionen:

  • Es werden Inverter Leistungssteuerungen für Klimakompressoren zyklisch aufgeheizt und extrem schnell wieder abgekühlt, um durch die Wechselbelastung Fehler an Lötstellen und Halbleitern erkennen zu können
  • Über ein 120V Netzteil wird die Elektronik versorgt
  • Die Kommunikation und das Auslesen der PCB Temperatur erfolgt mittels CAN-BUS
  • Andere Bauteile des Prüflings werden mit Temperaturfühlern auf ihre Grenzen überwacht
  • Ein kompletter Stress-Test dauert ca. 30 min.


Komponenten:

  • 38HE Rack
  • Industrierechner
  • USV zum Schutz der Messdaten
  • Adaption als Steharbeitsplatz
  • Externes Flüssigkeitskühlsystem
  • Prüfsoftware TestManager CE


Das Besondere:

Das RunIn Testsystem zeichnet sich besonders durch den Hochleistungs-Flüssigkeitskühlkörper mit aktiver Kühlung der angeschlossenen Lasten aus.

Außerdem ist es möglich die Kühlleistung schnell zu regeln und den Prüfablauf über variable Parameter auf Zeit, Temperatur und Anzahl der Zyklen allen möglichen thermischen Stressbedingungen schnell anzupassen.